Langanzeige der Metadaten
DC Element | Wert | Sprache |
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dc.contributor.advisor | Goser, Karl | - |
dc.contributor.author | Schlünder, Christian | - |
dc.date.accessioned | 2007-03-21T13:18:28Z | - |
dc.date.available | 2007-03-21T13:18:28Z | - |
dc.date.issued | 2007-03-21T13:18:28Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2003/24191 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.17877/DE290R-8410 | - |
dc.language.iso | de | de |
dc.subject | Zuverlässigkeit | de |
dc.subject | Bias Temperature Stress | en |
dc.subject | BTS | de |
dc.subject | NBTI | de |
dc.subject | Degradation | en |
dc.subject | MOSFET | de |
dc.subject.ddc | 620 | - |
dc.title | Zuverlässigkeit von sub-µm-CMOS-Schaltungen bei Bias-Temperature-Stress (BTS) | de |
dc.type | Text | de |
dc.contributor.referee | Oehm, Jürgen | - |
dc.date.accepted | 2006-09-12 | - |
dc.type.publicationtype | doctoralThesis | de |
dc.identifier.urn | urn:nbn:de:hbz:290-2003/24191-8 | - |
dcterms.accessRights | open access | - |
Enthalten in den Sammlungen: | Lehrstuhl für Bauelemente der Elektrotechnik |
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