Autor(en): Wüstenfeld, Jens
Titel: Characterisation of ionisation induced surface effects for the optimisation of silicon detectors for particle physics applications
Sprache (ISO): en
Schlagwörter: silicon
detector
silicon radiation detector
radiation damage
Surface damage
Silizium
Strahlenschäden
Detektor
URI: http://hdl.handle.net/2003/2351
http://dx.doi.org/10.17877/DE290R-652
Erscheinungsdatum: 2001-11-12
Provinienz: Universität Dortmund
Enthalten in den Sammlungen:Experimentelle Physik IV

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