Rettig, Christian2005-08-192005-08-192005-08-19http://hdl.handle.net/2003/2156210.17877/DE290R-8136deClustersNanostructuresSelf assemblyScanning tunnelling microscopySurface x-ray diffractionSXRDReflectivityHydrogen terminationCyclic voltammogrammGrowthSiliconSi(111) : HPbLeadMorphology530Bleinanostrukturen auf mit Wasserstoff passiviertem Silizium (111)elektrochemische Bleiabscheidung und Vakuumaufdampfverfahrendoctoral thesisurn:nbn:de:hbz:290-2003/21562-7