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Lehrstuhl für Bauelemente der Elektrotechnik : [5]

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Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 5 of 5
Issue DateTitleAuthor(s)
2007-03-21T13:18:28ZZuverlässigkeit von sub-µm-CMOS-Schaltungen bei Bias-Temperature-Stress (BTS)Goser, Karl; Schlünder, Christian; Oehm, Jürgen
1999-08-31Mesoscopic phenomena in nanometer scale MOS devicesWirth, Gilson Inácio
2003-05-26Entwurf, Herstellung und Charakterisierung eines mikromechanischen QuecksilbersensorsSchumacher, Klaus; Schambach, Kwan; Hilleringmann, U.
2002-07-18Resonanz-Tunneldioden und Heterobipolartransistoren in dynamischen Digitalschaltungen hoher FunktionsdichteGoser, Karl; Glösekötter, Peter; Rojas, I.
2001-10-04Design und Analyse integrierter Schaltungen mit evolutionären AlgorithmenGoser, Karl; Thomas, Marc; Rückert, U.
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Author
  • 1 Glösekötter, Peter
  • 1 Schambach, Kwan
  • 1 Schlünder, Christian
  • 1 Thomas, Marc
  • 1 Wirth, Gilson Inácio
Subject
  • 1 Amalgam
  • 1 Bias Temperature Stress
  • 1 BTS
  • 1 Bulk-MOS-system
  • 1 circuit analysis
  • 1 Coulomb blockade
  • 1 Degradation
  • 1 evolution strategy
  • 1 evolutionary algorithm
  • 1 Evolutionsstrategie
  • . next >
Date issued
  • 1 2007
  • 1 2003
  • 1 2002
  • 1 2001
  • 1 1999
DINI Zertifikat

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