Subscribe to this collection to receive daily e-mail notification of new additions

Issue Date	Title	Author(s)
2007-03-21T13:18:28Z	Zuverlässigkeit von sub-µm-CMOS-Schaltungen bei Bias-Temperature-Stress (BTS)	Goser, Karl; Schlünder, Christian; Oehm, Jürgen
1999-08-31	Mesoscopic phenomena in nanometer scale MOS devices	Wirth, Gilson Inácio
2003-05-26	Entwurf, Herstellung und Charakterisierung eines mikromechanischen Quecksilbersensors	Schumacher, Klaus; Schambach, Kwan; Hilleringmann, U.
2002-07-18	Resonanz-Tunneldioden und Heterobipolartransistoren in dynamischen Digitalschaltungen hoher Funktionsdichte	Goser, Karl; Glösekötter, Peter; Rojas, I.
2001-10-04	Design und Analyse integrierter Schaltungen mit evolutionären Algorithmen	Goser, Karl; Thomas, Marc; Rückert, U.