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Issue Date	Title	Author(s)
21-Mar-2007	Zuverlässigkeit von sub-µm-CMOS-Schaltungen bei Bias-Temperature-Stress (BTS)	Goser, Karl; Schlünder, Christian; Oehm, Jürgen
31-Aug-1999	Mesoscopic phenomena in nanometer scale MOS devices	Wirth, Gilson Inácio
26-May-2003	Entwurf, Herstellung und Charakterisierung eines mikromechanischen Quecksilbersensors	Schumacher, Klaus; Schambach, Kwan; Hilleringmann, U.
18-Jul-2002	Resonanz-Tunneldioden und Heterobipolartransistoren in dynamischen Digitalschaltungen hoher Funktionsdichte	Goser, Karl; Glösekötter, Peter; Rojas, I.
4-Oct-2001	Design und Analyse integrierter Schaltungen mit evolutionären Algorithmen	Goser, Karl; Thomas, Marc; Rückert, U.