Autor(en): | Schlünder, Christian |
Titel: | Zuverlässigkeit von sub-µm-CMOS-Schaltungen bei Bias-Temperature-Stress (BTS) |
Sprache (ISO): | de |
Schlagwörter: | Zuverlässigkeit Bias Temperature Stress BTS NBTI Degradation MOSFET |
URI: | http://hdl.handle.net/2003/24191 http://dx.doi.org/10.17877/DE290R-8410 |
Erscheinungsdatum: | 2007-03-21T13:18:28Z |
Enthalten in den Sammlungen: | Lehrstuhl für Bauelemente der Elektrotechnik |
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