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Experimentelle Physik I : [95]

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Untersuchungen der Struktur von Festkörpern und ihren Oberflächen, Nanostrukturen und Biomaterialien mittels Synchrotronstrahlung, Elektronenspektroskopie und Rastertunnelspektroskopie.

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2006-08-29T14:43:34ZCompton scattering on complex materialsTolan, M.; Volmer, Martin; Weber, W.
2006-06-09T10:00:19ZRöntgenstreuung an Flüssigkeits-Gas-GrenzflächenTolan, M.; Paulus, Michael; Winter, R.
2006-04-18T12:40:32ZX-ray intensity correlation spectroscopy from fluid surfacesTolan, Metin; Ghaderi, Tuana; Sinha, Sunil K.
2006-04-13T12:47:05ZAdvanced analysis techniques for x-ray reflectivitiesTolan, M.; Stolze, J.; Zimmermann, Klaus Martin
2005-10-28T07:02:30ZStrukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugungWestphal, Carsten; Schürmann, Mark; Weber, Werner; Horn, K.
2005-08-19T12:54:44ZBleinanostrukturen auf mit Wasserstoff passiviertem Silizium (111)Hövel, H.; Rettig, Christian; Wille, K.
2005-01-14Morphology and electronic structure of gold clusters on graphiteHövel, H.; Barke, Ingo; Bayer, M.
2002-03-20Bloch k-selective resonant inelastic scattering of hard X-rays from valence electrons of 3d-metalsSchülke, Winfried; Enkisch, Hartmut; Eberhardt, W.
2001-11-02Untersuchung der elektronischen Struktur von CuO mit resonanter Röntgen-Raman-StreuungSchülke, Winfried; Döring, Gordon; Tolan, Metin
2001-04-12Final state interaction and temperature effects in Compton scattering from lithiumSchülke, Winfried; Sternemann, Christian; Bell, F.
2000-08-15Aufbau und Betrieb eines Ellipsoidspiegel-Analysators (ESA) für bildhafte Impulsraum-Messungen der elektronischen Struktur von FestkörpernDütemeyer, Thomas
2000-08-04Spinselektive Messung der unbesetzten 5d-Zustandsdichte von EuO mit resonanter unelastischer Röntgenstreuung (RIXS)Wittkop, Christof
2000-02-25Tunnelspektroskopie und Photoemission bei tiefen Temperaturen an Edelgas-Modellsystemen und NanostrukturenGrimm, Burkhard
2000-02-24Untersuchungen zur elektronischen und atomaren Struktur von SiC-OberflächenDuda, Lutz
2000-02-18Ein Michelson-Interferometer für RöntgenstrahlenNußhardt, Michael
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