Autor(en): Krasel, Olaf
Titel: Charge collection in irradiated silicon detectors
Sonstige Titel: a study of the operation conditions of silicon sensors in the ATLAS pixel detector
Sprache (ISO): en
Schlagwörter: silicon detector
radiation damage
pixel detector
transient current technique
LHC
ATLAS
RD50
URI: http://hdl.handle.net/2003/2354
http://dx.doi.org/10.17877/DE290R-14839
Erscheinungsdatum: 2004-08-10
Provinienz: Universität Dortmund
Enthalten in den Sammlungen:Experimentelle Physik IV

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